画像認識を中心とした検品作業を高度化

2019年3月28日、日本電気株式会社(以下、NEC)は、東京大学大学院情報理工学系研究科 石川正俊教授室・妹尾拓講師らの研究グループと共同で、「高速カメラ物体認識技術」(以下、同技術)を開発したと発表した。

製造業では、多品種変量生産が増えているうえに、品質トラブルの防止と短納期の両立が求められており、製造ラインにおける製品検査の高速化・高精度化が重要となっている。

一方で、労働人口の減少が進むなか、人的作業に頼って検品作業の効率化・高度化を図ることは厳しい状況だ。

このため、NECの画像認識技術と東京大学の持つ高速移動物体の追跡技術を融合して、同技術を開発するに至った。

高速カメラ物体認識技術の概要

高速で動く製造ラインにおいて画像解析により検品作業を行う際、従来は画像処理時間の問題で、画像撮影のために製造ラインを一時停止あるいはスピード調整するなどの操作が必要で、リアルタイムな検査ができなかった。

同技術では、高速カメラで撮影された毎秒1,000フレームの大量の画像から認識に適した画像を瞬時に選別し、高速かつ高精度に検査の合否を判別できるため、製造ラインを操作することなく、生産効率の向上に貢献できる。

なお、同技術は、キズや刻印を正確に判別するために、認識処理を繰り返し、小規模なニューラルネットワークを用いて認識結果について多数決方式をとることで、高速かつ高い精度の判別を実現している。

また、これまで抜き取り検査しか行えなかった製品を、全品検査できるため、異物混入防止や品質の均一化が可能となり、品質管理を強化できると期待される。

(画像はプレスリリースより)

▼外部リンク

NEC プレスリリース
https://jpn.nec.com/press/201903/20190328_03.html